贵金属检测仪

 
       该款贵金属检测仪XF-S7是西凡西凡仪器2020全新款，一款可以测戒指内圈成分的贵金属检测仪，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款高端配置的全元素高端检测仪。它配备了进口Fast SDD探测器拥有十多项研发专利，性能突出，采用进口Fast SDD探测器，搭载ARM Cortex-A53四核处理器，Linux操作系统。

贵金属检测仪XF-S7的主要参数：

核心特征：可测戒指内圈+高精确度±0.01%

精确度: ±0.01%

整机分辨率：130±5eV

探测器： 进口Fast SDD探测器

适用温度： -11~46℃

规格尺寸：467×370×336(mm)

样品腔：310×248×124(mm)

主体结构：高强度金属支架+铝合金外壳

电脑操作系统：ARM 四核+Linux

热敏打印机：支持

天平/密度仪：支持

电池支持：否

样品可视：支持（铅玻璃）

电压： 100V～240V

额定功率：150W

重量：40公斤