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贵金属检测仪

贵金属检测仪XF-S7
元素检测范围:铝(No.13)~ 铀(No.92)
检测精度:±0.01%(9999金)
探测器:进口Fast SDD探测器
内置工控电脑: Intel i5十二核电脑+win11系统
准直器:ϕ1.5mm
光路系统:90度垂直光路
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  • 产品详情

    该款贵金属检测仪XF-S7是西凡西凡仪器2020全新款,一款可以测戒指内圈成分的贵金属检测仪,自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一,是一款高端配置的全元素高端检测仪。它配备了进口Fast SDD探测器拥有十多项研发专利,性能突出,采用进口Fast SDD探测器,搭载ARM Cortex-A53四核处理器,Linux操作系统。


    该款仪器的测试原理


    贵金属检测仪XF-S7的主要参数:

    核心特征:可测戒指内圈+高**度±0.01%

    **度: ±0.01%(9999金)

    整机分辨率:130±5eV

    探测器: 进口Fast SDD探测器

    适用温度: -11~46℃

    规格尺寸:467×370×336(mm)

    样品腔:310×248×124(mm)

    主体结构:高强度金属支架+铝合金外壳

    电脑操作系统:Intel i5十二核电脑+win11系统

    热敏打印机:支持

    天平/密度仪:支持

    电池支持:否

    样品可视:支持(铅玻璃)

    电压: 100V~240V

    额定功率:150W

    重量:40公斤

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