贵金属检测仪

XF-A5S贵金属成分无损检测仪是西凡仪器面向贵金属成分无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收等行业和单位。该产品采用目前*先进的进口定制Si-PIN探测器，内置十核CPU工控电脑，采用全新的垂直光路。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比极高。

贵金属检测仪XF-A5S产品特点

元素检测范围：钾(No.19)～铀(No.92)

可支持*多30个元素同时计算

分析范围：0.01%～99.99%

检测精度：±0.03%(9999金)

检测样品：固体/液体/粉末

定制TCP/IP协议API接口，支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集

支持多点连续测试，测试效率高

内置ARM四核XRF专用电脑+Linux内核，无惧木马和病毒软件

选装10工位转盘，自动连续测试10个样品

贵金属检测仪XF-A5S核心部件

探测器：AMPTEK定制版Si-PIN探测器

内置工控电脑：英特尔i3十核工控电脑

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：玻璃窗

靶材：钨

焦点：0.5mm

准直器：2.5mm

贵金属检测仪XF-A5S核心部件产品规格

输入电压：AC100～240V，50Hz

产品包装尺寸：565mmx535mmx500mm

产品尺寸：450mmx422mmx378mm

样品舱尺寸：366mmx336mmx141mm

额定功率：<150W

毛重：47KG

净重：35KG

噪音：50dB

使用环境：

温度：15℃～31℃

湿度：<70%（不结露）

贵金属检测仪XF-A5S软件截图