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贵金属检测仪

贵金属检测仪XF-S8
探测器:AMPTEK 定制顶级 Fast-SDD 探测器
精准度:土0.001%(9999 金)
分辨率:125+5eV
额定功率: <150W
规格尺寸:450mmx422mmx378mm
仪器重量:39KG
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  • 产品详情

    XF-S8贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款专用检测万足金的旗舰X射线荧光光谱仪支持贵金属成分检测和液体浓度检测,可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。亥产品采用先进的进口定制顶级 Fast-SDD 探测器,内置四核工控电脑,采用 X 射线与可见光共焦点光路设计和全新的 Smart F 算法。检测速度快,测试稳定性好、准确性高,适用范围广。

    一、贵金属检测仪XF-S8外观展示

    贵金属检测仪XF-S8


    二、贵金属检测仪XF-S8优势特点:

    元素检测范围: 铝(No.13)~ 铀(No.92)

    可支持最多 30 个元素同时计算

    分析范围: 0.0010%~99.9999%

    检测精度: 土0.001%(9999 金)

    支持多点连续测试,测试效率高

    三准直器,多滤光片自动切换

    任意方向可见辐射警告灯

    遵守 GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658,IEC62321 标准


    三、贵金属检测仪XF-S8产品规格

    产品包装尺寸: 565mmx535mmx500mm

    产品尺寸: 450mmx422mmx378mm

    样品舱尺寸: 366mmx336mmx141mm

    额定功率:<150W

    毛重: 61KG (包含显示器、UPS 等)

    净重: 39KG

    噪音: 50dB

    使用环境:

    温度: 15°C~31°C

    湿度: <70% (不结露)


    四、贵金属检测仪XF-S8核心部件

    探测器: AMPTEK 定制顶级 Fast-SDD 探测器,面积: 25mm2,分辨率: 125+5eV。

    内置工控电脑: Intel i5 四核+Windows11

    高压电源: 50KV/1mA 数字高压电源

    X射线管: 50KV/1mA

    窗口材料:镀窗

    靶材:钨

    焦点: 0.1mm

    准直器: 0.5mm/10mm/ 2.0mm


    五、贵金属检测仪XF-S8测试示例

    5个9谱图

    5个9谱图

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