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贵金属检测仪

贵金属检测仪XF-S6
贵金属检测仪XF-S6
探测器:Fast-SDD探测器
精准度:±0.01%(999金)
分辨率:124ev ± 5ev
额定功率: 180W
规格尺寸:450mmx422mmx378mm
仪器重量:39KG
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  • 产品详情

    XF-S6贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款旗舰X射线荧光光谱仪,支持贵金属成分检测、镀层厚度检测、液体浓度检测和RoHS检测,可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast-SDD探测器,内置四核工控电脑,采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的Smart FP算法。检测速度快,测试稳定性好、准确性高,适用范围广。

    贵金属检测仪XF-S6

    贵金属检测仪XF-S6产品特点

    可支持最多30个元素同时计算

    分析范围:贵金属:0.010%~99.999%;镀层厚度:4层,0.002微米~80微米;RoHS:1ppm~99.999%

    检测精度:贵金属:±0.01%(999金);镀层:相对误差:±1.5%(1微米厚度);RoHS:1ppm(理想基体效应)

    支持多点连续测试,测试效率高

    双准直器,多滤光片自动切换

    遵守GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658,IEC62321标准。

     

    贵金属检测仪XF-S6产品规格

    输入电压:AC100~240V,50Hz

    产品包装尺寸:566mmx531mmx500mm

    产品尺寸:450mmx422mmx378mm

    样品舱尺寸:366mmx336mmx141mm

    额定功率:180W

    毛重:61KG(包含显示器、UPS等)

    净重:39KG

    噪音:50dB

    使用环境:
    温度:15℃~31℃
    湿度:<70%(不结露)

     

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