多功能XRF光谱仪

XF-S6是西凡仪器推出的旗舰款多功能X射线荧光光谱仪，可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品搭载美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器、配备多准直器和多滤光片，内置Intel 12核CPU工控电脑，采用Smart FP算法，创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、RoHS有害物质、镀层厚度、矿石成分和离子浓度等，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。 

一、多功能XRF光谱仪XF-S6产品特点

l元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)          

l可支持*多30个元素同时计算

l可支持4层镀层厚度及合金镀层分析

l可支持宝石人工/天然分析

l分析范围：

u成分分析：0.010%～99.999%

u厚度分析：0.001um~80um

u浓度分析：5微克/升~200克/升

l检测精度：

u贵金属：±0.01%(9999金)

u镀层厚度：RSD≤1.5%

u浓度：RSD≤1.5%

l检测样品：贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体/矿石粉末/RoHS

l支持多点连续测试，测试效率高

l选装10工位转盘，自动连续测试10个样品

二、多功能XRF光谱仪XF-S6核心配件

l探测器：美国AMPTEK定制版Fast-SDD探测器

n探测器面积：25mm²

n分辨率：125±5eV

l内置工控电脑：Intel i5十二核CPU工控电脑+win11系统

l高压电源：50KV/1mA数字高压电源

lX射线管：50KV/1mA

n窗口材料：铍窗

n靶材：钨

n焦点：φ0.1mm

l准直器：φ0.5mm+φ1.5mm

三、多功能XRF光谱仪XF-S6软件测试截图