由香港贸发局主办的第39届香港国际珠宝展于2023年3月1日-5日在香港会议展览中心举行。作为香港复常后的首轮大型珠宝展览，本届香港国际珠宝展汇聚了来自36个国家及地区、超过2500家展商参与，全球各地的商家带来了价值不菲，高雅脱俗的珠宝珍品参展，展会现场人山人海热闹非凡。

璀璨夺目的不仅是珠宝首饰，此次西凡带来了两款旗舰款XRF光谱仪，外观简约大气，科技感十足，在珠宝、贵金属领域具备精准无损分析的超强性能，吸引了大批海内外客户朋友咨询。聚焦精彩的精品展示，聚焦完美的专业服务，展会现场我们业务经理和技术服务人员对每一位咨询的国内外国朋友都热情地做了专业细致的产品介绍，零距离沟通的同时也建立了友谊和商业的桥梁。

现场签单精彩瞬间

因为值得被信任，所以坚定的选择，西凡仪器在展会现场签单不断，接连多单国外客户现场现金付款成交，喜报频传；众多海外朋友也纷纷下单预定“中国智造”-西凡牌光谱仪，在未来，西凡光谱仪将会出现在世界各个角落。

展会现场还收到了海外合作客户远道而来送来的鲜花祝贺，也见证了我们和合作客户长此以往的愉快合作，由衷地感谢新老客户对西凡仪器的认可和信赖。

展会仪器介绍

XF-A7贵金属检测仪

XF-A7采用一体化设计，内置工控电脑、IPS液晶屏和多点电容触摸屏，操作简单智能。整机采用航空级铝合金材质，触感高级。全新的垂直光路系统和进口定制Si-pin探测器确保检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

产品亮点：

A. 铅玻璃窗口，方便观察样品仓中检测样品的状态

B. 操作简单，一键测试，全触屏操作

C. 检测精度高：999金（0.03%），可精准分析贵金属成分和含量及鉴别黄金掺假

D. 外观美丽大方，体积较小，适用于柜台展示

适用行业：首饰展厅，回收，银行

XF-P3镀层测厚仪

XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪，该产品采用进口定制Fast-SDD探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法，无需标样，可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器，电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

产品亮点：

A. 检测精度超高相对误差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)

B. XY平台：轻松多点测试超小样品，行程：30mm×30mm

C. 多层分析: 可支持至多十层检测

D. Smart FP智能算法：无需标样，同时分析镀层厚度和成分

适用行业：贵金属镀层测厚检测、电解液分析

凭借先进成熟的研发生产技术，西凡光谱仪广泛应用于珠宝、贵金属及其他相关材料的无损检测领域，西凡仪器已发展成为光谱仪市场中极具影响力的品牌之一，产品远销东南亚、中东、欧美等多个国家和地区。

西凡仪器在全球拥有众多代理经销商，具备广大完整的销售服务网络，凭借丰富的经验和完善的服务体系，西凡将持续为广大客户提供先进的光谱仪和专业、周到、细致的服务。